Под патентной статистикой понимаются сведения, отражают состояние патентного фонда и изменения, происходящие в выдачу патентов по годам и классам; количество патентов, Выданных отечественным и иностранным заявителям; количество ежегодно аннулируемых патентов (в том числе — за неуплату пошлины); количество патентов, принадлежащих крупным фирмам, и т. д. Патентная статистика позволяет анализировать уровень патентования, распределение изобретений по отраслям промышленности, направление внешнеэкономических операций, структурные в различных сферах производства, условия технологического кооперирования фирм и объединений различных стран, экспорта и импорта, характер лицензионных соглашений и т. д. В большинстве стран данные патентной статистики публикуются нерегулярно и с большим опозданием. Специальные исследования весьма редки. Как правило, важнейшие «энные, являющиеся основой для статистических исследований, публикуются в официальных бюллетенях и годовых отчетах ведомств, а также в официальных обзорах таких международных организаций, как БИРПИ. Изучение патентной статистики невозможно без использования и анализа других статистических справочников и периодических изданий.

Например, во Франции Национальным институтов статистики и экономических исследований издается ряд важнейших ежегодников («Статистический ежегодник Франции», «Состояние французской экономики» и др.), которые аналогичны подобным изданиям других стран. Следует отметить, что многие статистические данные после соответствующей обработки позволяют сделать важные выводы.

Так, сведения о прекращении действия патентов за неуплату пошлин вместе со сведениями о дате выдачи этих патентов, публикуемые в английском патентном бюллетене «The Official Journal (Ра-tents)», позволяют установить изменения, происходящие в отдельных сферах производства. Работы в области патентной статистики были начаты в ЦНИИПИ в 1964 г. За последние годы опубликованы исследования по США, Великобритании, Франции, ФРГ, Бельгии, Японии и другим странам. Результаты этих исследований издавались в виде отдельных монографий и обзоров в «Вопросах изобретательства».